在今日的电子业界，为了使产品运行的更快，更稳定，半导体集成电路的设计与生产越来越往高集中化，高微细度进发。而以往所使用的半导体器件失效分析仪器却无法正确有效的测量微小的晶体管与其它构造物的电力参数。应众多公司的需求，我们研发，制造和支持业界唯一的高分辨率多探头纳米探针台--Multiprobe的多重扫描原子力探针（AFP）。其高解析精准度和高使用效率是远远超越本领域内其他失效分析仪器。
多重扫描原子力探针使用户能够对65到32纳米的晶体管与其它构造物，迅速进行电力参数的探测与识别。多重扫描原子力探针采用多个专用原子力显微镜测头，快速准确的定位失效晶体管并进行极近距终端接触。其配置的软件可帮助用户轻松放置探针，避免了以往昂贵又耗时的测量工序，而且还大大简化了调试程序。
本公司愿意为您提供最先进的技术和资深的专业人员来协助您的电子器件公司顺利实现您的生产需求与目标。
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