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ISO 9001:2008国际标准认证

公司研究开发的高分辨率多重扫描原子力探针台

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サーキットイメージング テクニカルサポート
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利点

製品情報
 
适用工艺结构: 250纳米到32纳米 
可配置探头数: 1个到6个  
探测针接触方式:力反馈 
探测针操纵方式:自动控制, 鼠标定位 
定位分辨率:5纳米以下 
重复测量误差: 1毫伏以下, 100飞安培以下
测量精确度:500飞安培 
初始探针电阻值: 平均40欧姆 
系统无故障时间: 大于95%  
平均无故障时间:1000小时 
安装和调试: 3天 
同步故障定位: 皮安培电流成像(PicoCurrent), 扫描电容显微镜 (SCM)
故障确认:IV 曲线
CAD智能导航功能