为了提高效率和出产率而设计。
MultiScan3优化了CPU的处理时间， 并和所有的新旧硬件配置兼容。MultiScan3应用最新一代的微软.Net技术设计，并用C# 程序语言写成。
在MultiScan3的控制平面里模式的转换可以迅速而不间断的进行。多种操作，例如打开激光，开启探头和放大电流倍数可以在鼠标的轻轻一点间轻松完成。
能与大部分的半导体参数分析仪(由用户方提供)兼容。
...... 返回页首 ......
可以让用户把CAD设计软件的布线图与AFP扫描图像重叠，从而使用户能够快速确认出 扫描图像上的微电路表面结构。用户也可以直接在CAD布线图上点取想探测的接触点以操纵纳米精度智能导航台移动芯片到相应的区域来进行扫描成像与测试。
